Январь 26th, 2024 
raven000 ASML, 3-й по величине изготовитель полупроводникового оснащения во всем мире, сообщил в прошлую субботу, что дал противный иск против Nikon после того, как некоторыми днями раньше японская организация начала против него всеобъемлющую патентную битву.
REUTERS/Thom Pate
Иски ASML затрагивают нарушения не менее 10 патентов на оснащение для изготовления полупроводников, оснащение для изготовления тонких панелей и цифровых камер. Они были поданы в трибунал в Японии голландской организацией собственноручно и вместе с собственным партнёнапиток Carl Zeiss, германским изготовителем зрительных систем и лечебных механизмов, замечено в утверждении ASML. Также будут поданы иски против японского компании-производителя в Соединенных Штатах.
ASML господствует на рынке литографских автомашин, применяемых самыми крупными всемирными изготовителями для того, чтобы производимые микросхемы были ещё меньше, стремительней и плодотворнее. По сведениям рейтингового агентства Fitch, ASML возбуждает около 80 % заработков на данном рынке, обгоняя Nikon и Canon, занимающих 2-ое и 3-е место как следствие.
Круг исков и противных исков следовал после бесполезных усилий изменить патентную сделки между ASML и Nikon, период действия которой истёк в 2014 году. В настоящее время есть опасность восстановления патентных ибоёв между фирмами, которые стартовали на этапе веков.
ASML сталкивалась с нареканиями Nikon в несоблюдении патентных прав и прежде. В 2001 году Nikon направилась насчет этого в Интернациональную комиссию по торговле США (ITC). Спустя 2 года ITC вынесла решение о невиновности ASML, выигравшей по всем 15 пунктам нарекания. В 2004 году Nikon, ASML и Carl Zeiss закончили перекрёстное лицензионное соглашение на 5 лет. Лицензионный момент завершился 31 января 2009 года. Переходный момент, на протяжении которого стороны договорились не давать иск, завершился 31 января 2014 года.
Нужно отметить, что в 2004 году патентный кошелек Nikon был больше, чем у ASML и ZEISS, однако в настоящее время картина в корне поменялась.
Опубликовано в рубрике 
